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華高儀器于2025年07月18日發(fā)布了文章【日本愛斯佩克TSD-101-W：冷熱沖擊試驗設(shè)備】。
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在電子、軍工等領(lǐng)域，產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的性能穩(wěn)定性至關(guān)重要，高低溫冷熱沖擊試驗箱是評估產(chǎn)品耐受溫度急劇變化能力的重要設(shè)備。日本愛斯佩克ESPEC推出的TSD-101-W高低溫冷熱沖擊試驗箱，在保持試驗效果的同時，在空間利用、操作便捷性等方面展現(xiàn)出特點，成為相關(guān)行業(yè)試驗工作中的實用設(shè)備。
1. 設(shè)計與空間優(yōu)勢
TSD-101-W在設(shè)計上兼顧了內(nèi)部空間與整體尺寸的平衡。其內(nèi)部空間達到28英寸x16英寸x13.5英寸（710x410x345毫米），內(nèi)部體積為3.5立方英尺（100升），能滿足一定數(shù)量樣品的試驗需求。同時，系統(tǒng)嚴格控制整體尺寸，外部尺寸為44英寸x78英寸x75英寸（1100x1970x1890毫米），與傳統(tǒng)設(shè)備相比，占地面積減少了40%，更適合空間有限的實驗室或生產(chǎn)場地使用。
2. 智能控制與操作優(yōu)化
該設(shè)備升級到最新的觸摸屏控制器，配備7英寸屏幕并支持以太網(wǎng)接入，程序和數(shù)據(jù)的上傳/下載可通過網(wǎng)絡(luò)完成，操作更為便捷。其的樣品溫度觸發(fā)（STT）功能，能主動監(jiān)控產(chǎn)品溫度，僅當(dāng)產(chǎn)品達到所需溫度時，程序才進入下一步，還可根據(jù)測試產(chǎn)品數(shù)量調(diào)整浸泡時間，動態(tài)減少整體測試時間。此外，冷卻模式允許操作員在測試完成后快速安全地取出樣本，提升了操作的安全性和效率。
3. 結(jié)構(gòu)與細節(jié)設(shè)計
- 柔性電纜管道從側(cè)面伸出（用于監(jiān)控或為樣品供電），不同于傳統(tǒng)的頂部移動管道設(shè)計，更便于樣品連接與管理。
- 可選配窗口，方便檢查樣品狀態(tài)，滿足試驗過程中的觀察需求。
4. 規(guī)格與性能參數(shù)
- 溫度范圍：-77至205攝氏度（-105至400華氏度），能覆蓋多種高低溫沖擊測試需求。
- 測試性能示例：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)883 1010.7，在-65至150攝氏度范圍，對22磅集成電路芯片進行測試，恢復(fù)時間為15分鐘（最壞情況下的產(chǎn)品）。
- 電源要求：主電源為北美標(biāo)準(zhǔn)208V，國際備用電源可選200V、220V、380V或415V。
- 水冷需求：峰值時每分鐘9加侖（具體可詢問詳情）。
- 噪聲控制：最大聲級（1米遠）低于65dB，實現(xiàn)安靜操作，減少對環(huán)境的干擾。
5. 可用選項
設(shè)備提供多種可選配置，包括帶彩色顯示和壓縮閃存的無紙記錄儀、條帶錄音機、計算機接口（IEEE-488或RS-232）、觀察孔、額外的STT熱電偶輸入以及附加柔性電纜管等，可根據(jù)實際需求靈活選擇。
日本愛斯佩克ESPEC TSD-101-W高低溫冷熱沖擊試驗箱，憑借緊湊的設(shè)計、智能的控制功能及穩(wěn)定的性能，為電子芯片等產(chǎn)品的安全性能測試提供了可靠支持，在相關(guān)行業(yè)的質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)發(fā)揮著實用價值。
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