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在射頻測試領(lǐng)域,各類電子元器件的阻抗、電容、電感等參數(shù)測量,是保障產(chǎn)品性能、優(yōu)化生產(chǎn)流程的重要環(huán)節(jié)。安捷倫推出的E4982A射頻LCR測試儀,憑借全面的測量功能、穩(wěn)定的性能表現(xiàn),成為電子測試領(lǐng)域的常用設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各類電子元器件的研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量檢測場景,為相關(guān)行業(yè)的測試工作提供可靠支撐。
使用要點:規(guī)范操作保障測試可靠
安捷倫E4982A射頻LCR測試儀的規(guī)范使用,是確保測量數(shù)據(jù)可靠的基礎(chǔ),其核心使用要點主要包括校準、補償和激勵源設(shè)置三個方面,具體如下:
校準:作為保障測量準確的關(guān)鍵步驟,該儀器通常需要進行開路、短路、負載三種基礎(chǔ)校準,針對電容測量場景,還需額外進行低損耗電容校準,通過規(guī)范校準消除儀器自身誤差,確保測量數(shù)據(jù)的可信度。
補償:為減少測試過程中外部因素的干擾,儀器需進行相應(yīng)補償操作,包括開路/短路補償和電長度補償,可有效消除測試夾具和電纜引入的誤差,進一步提升測量精度。
設(shè)置激勵源:需根據(jù)被測器件(DUT)的自身特性,合理設(shè)置測試頻率、信號電平(電壓或電流)等相關(guān)參數(shù),確保測試條件與被測器件的適配性,保障測試結(jié)果的合理性。
核心功能:全面覆蓋射頻測試需求
安捷倫E4982A射頻LCR測試儀具備全面的測試功能,可滿足各類電子元器件的射頻參數(shù)測量需求,其核心功能主要體現(xiàn)在測量參數(shù)和測量電路形式兩個方面:
測量參數(shù):儀器可實現(xiàn)多種參數(shù)的精準測量,涵蓋|Z|(阻抗幅值)、|Y|(導(dǎo)納幅值)、L(電感)、C(電容)、R(電阻)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、X(電抗)、G(電導(dǎo))、B(電納)、θ(相位角),全面覆蓋射頻測試中常見的參數(shù)類型,無需額外設(shè)備即可完成多維度測量。
測量電路形式:支持串聯(lián)和并聯(lián)兩種測量電路形式,可根據(jù)被測器件的特性和測試需求靈活選擇,適配不同類型電子元器件的測試場景,提升測試的靈活性和適用性。
關(guān)鍵性能參數(shù):穩(wěn)定且適配多樣場景

安捷倫E4982A射頻LCR測試儀的各項性能參數(shù)表現(xiàn)穩(wěn)定,可適配不同場景下的測試需求,其關(guān)鍵性能參數(shù)詳細如下:
(1)頻率特性
儀器的頻率范圍覆蓋1 MHz ~ 3 GHz,可滿足中高頻段的射頻測試需求;頻率分辨率標注多為100 kHz,另有來源提及可達到10kHz,可根據(jù)測試精度需求靈活調(diào)整,保障頻率設(shè)置的精準性。
(2)信號源特性
信號電平(開路電壓)分為兩種規(guī)格,其中一種為5 mVrms ~ 0.25 Vrms,另一種為4.47 mVrms ~ 502 mVrms(f≤1GHz時)、4.47 mVrms ~ 447 mVrms(f>1GHz時),可適配不同靈敏度需求的被測器件;輸出連接器采用APC-3.5規(guī)格,輸出阻抗為50 Ω,符合射頻測試的常規(guī)接口標準,便于與各類測試夾具、電纜連接。
(3)阻抗測量范圍與精度
在1MHz頻率下,當測量精度≤10%時,儀器的阻抗測量范圍為200 mΩ ~ 3 kΩ,可覆蓋多數(shù)常用電子元器件的阻抗測量需求;基本測量精度方面,|Z|(阻抗幅值)的基本精度為±1.0%,可滿足常規(guī)射頻測試的精度要求。
(4)測量速度
儀器的測量時間為9 ms / 點,可快速完成單一點位的參數(shù)測量,適合批量元器件的快速檢測,提升測試工作效率。
顯示、存儲與接口:便捷適配測試流程
安捷倫E4982A射頻LCR測試儀在顯示、存儲和接口設(shè)計上充分考慮實用性,適配各類測試場景的操作需求,具體細節(jié)如下:
顯示與存儲:配備8.4英寸彩色LCD顯示器,可清晰顯示測量參數(shù)、測試條件等相關(guān)信息,便于操作人員查看;存儲設(shè)備支持多種配置,包括內(nèi)置硬盤(如2GB選件)和軟驅(qū),或30MB固態(tài)存儲與2GB硬盤選件,可滿足不同體量測試數(shù)據(jù)的存儲需求,便于數(shù)據(jù)的后續(xù)查閱和整理。
接口配置:標準接口包括GPIB接口和處理器接口,可實現(xiàn)與各類測試設(shè)備、計算機的常規(guī)連接;同時支持LAN(10Base-T/100Base-TX)選件接口,可根據(jù)需求擴展網(wǎng)絡(luò)連接功能,提升設(shè)備的兼容性和連接靈活性,適配不同實驗室的測試系統(tǒng)搭建。
一般規(guī)格:適配常規(guī)實驗室環(huán)境
安捷倫E4982A射頻LCR測試儀的一般規(guī)格貼合常規(guī)實驗室的使用條件,無需特殊環(huán)境改造即可正常運行,具體參數(shù)如下:
工作環(huán)境:工作溫度范圍為10 ~ 40℃,相對濕度為15% ~ 80%;另有規(guī)格顯示可適應(yīng)5℃ ~ 40℃、相對濕度20% ~ 80%的環(huán)境,適配多數(shù)實驗室的溫濕度條件。
電源要求:支持90V ~ 132V或198V ~ 264V兩種電壓規(guī)格,頻率范圍為47Hz ~ 66Hz,可適配不同地區(qū)的電網(wǎng)電壓,便于設(shè)備的廣泛應(yīng)用。
外形與重量:主機尺寸為寬426mm × 高234mm × 深446mm,體積適中,便于實驗室擺放;主機重量約16kg,搬運和安裝較為便捷,無需專業(yè)起重設(shè)備。
安捷倫E4982A射頻LCR測試儀憑借全面的測量功能、穩(wěn)定的性能表現(xiàn)、便捷的操作設(shè)計,貼合電子元器件研發(fā)、生產(chǎn)及檢測領(lǐng)域的測試需求,成為射頻測試領(lǐng)域的實用設(shè)備。其規(guī)范的校準與補償流程、靈活的參數(shù)設(shè)置、多樣的適配能力,可滿足不同場景下的測試需求,為相關(guān)行業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量把控和技術(shù)研發(fā)提供可靠的測試支撐。
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